掃描電鏡如何使用多重圖層疊加對(duì)比不同放大圖像？

在掃描電鏡（SEM）中，為了對(duì)比同一區(qū)域在不同放大倍數(shù)下的圖像細(xì)節(jié)差異，可以使用圖像處理軟件實(shí)現(xiàn)“多重圖層疊加”對(duì)比。

掃描電鏡金屬噴鍍的厚度會(huì)影響圖像細(xì)節(jié)嗎？

在掃描電鏡（SEM）中進(jìn)行金屬噴鍍時(shí)，噴鍍層的厚度確實(shí)會(huì)影響圖像細(xì)節(jié)的呈現(xiàn)，尤其是高分辨率成像和觀察微小結(jié)構(gòu)時(shí)。

在掃描電鏡中，不同材料顯示出不同亮度，主要是因?yàn)樗鼈兊脑有驍?shù)、電子散射能力和導(dǎo)電性不同，導(dǎo)致探測(cè)器接收到的信號(hào)強(qiáng)弱差異。

在掃描電鏡（SEM）中定位同一位置進(jìn)行多次觀察，是實(shí)現(xiàn)重復(fù)成像、前后對(duì)比、時(shí)間演化研究的重要操作。

掃描電鏡（SEM）中的工作距離（Working Distance，簡(jiǎn)稱 WD）是指電子槍發(fā)出的電子束末端（物鏡極柱）到樣品表面的垂直距離。

掃描電鏡（SEM）在成像過(guò)程中對(duì)樣品表面狀態(tài)非常敏感，樣品表面不平整（如高低起伏、傾斜、凹凸不平）會(huì)對(duì)圖像質(zhì)量和分析結(jié)果產(chǎn)生多個(gè)方面的負(fù)面影響：

在掃描電鏡（SEM）觀察中，如果圖像出現(xiàn)漂移、跳動(dòng)或位置不穩(wěn)定，可能是由于樣品偏移或不穩(wěn)定造成的。

當(dāng)使用掃描電鏡（SEM）觀察非導(dǎo)電樣品（如生物樣本、陶瓷、高分子材料等）時(shí)，樣品帶電可能導(dǎo)致圖像模糊、偏移、亮度不均或漂移。