在掃描電鏡（SEM）成像時，如果樣品邊緣特別亮，這是一個非常常見的現象，通常由以下幾個主要原因造成：

1. 邊緣效應（Edge Effect）——二次電子增強發(fā)射

在 SEM 中使用二次電子（Secondary Electrons, SE）成像時：

邊緣、尖角、表面突起等區(qū)域，因為曲率較大或暴露面較多；

會比平坦區(qū)域發(fā)射出更多的二次電子；

這些增強的電子信號被探測器接收，就形成了“特別亮”的成像效果。

這是一種物理現象，不是圖像錯誤，而是有助于增強樣品細節(jié)對比的機制。

2. 樣品帶電效應（Charging）也可能導致邊緣亮

對于不導電或導電性差的樣品（如聚合物、陶瓷、無噴鍍處理的材料）：

邊緣區(qū)域更容易積聚電荷；

導致電子束局部偏轉，產生異常電子發(fā)射；

成像時在邊緣或角落位置出現異常發(fā)亮、發(fā)白、甚至閃爍。

解決方法包括：

噴金或噴碳提高導電性；

降低電子束電流（beam current）；

使用低電壓成像；

使用環(huán)境電鏡（ESEM）減少帶電。

3. 探測器位置與樣品幾何關系影響亮度

如果二次電子探測器位于樣品上方某一側；

那么傾斜或邊緣面朝向探測器的區(qū)域就會更亮；

背離探測器的一側則可能變暗。

4. 圖像對比度與增益設置過高

有時圖像信號放大設置（Gain）過高，也會把正常的邊緣增強放大得過于明顯；

可通過調整圖像對比度（Contrast）或亮度（Brightness）來緩解。