ZEM15臺(tái)式掃描電鏡可以在低溫下給樣品測(cè)試嗎？
日期：2022-03-25
問(wèn)：ZEM15臺(tái)式掃描電鏡可以在低溫下給樣品測(cè)試嗎？
答：ZEM15臺(tái)式掃描電鏡可以搭載各品類(lèi)PicoFemto原位樣品臺(tái)，輕松完成加熱、拉伸、低溫、電學(xué)測(cè)試、光學(xué)測(cè)試等原位SEM測(cè)量功能，詳情請(qǐng)?jiān)兛头?/span>
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作者：澤攸科技