掃描電鏡（SEM）圖像過暗或過亮通常與圖像的曝光、增益設(shè)置、探測器選擇以及樣品表面特性有關(guān)。以下是一些調(diào)整方法：

1. 調(diào)整電子束曝光時(shí)間

過暗：增加曝光時(shí)間，使電子束與樣品的相互作用時(shí)間更長，從而提高圖像亮度。

過亮：減少曝光時(shí)間，以避免過多的電子被樣品吸收，導(dǎo)致圖像過亮或飽和。

2. 調(diào)整增益/亮度/對(duì)比度設(shè)置

過暗：增大增益值（或亮度設(shè)置），以提高信號(hào)強(qiáng)度。

過亮：減少增益，降低信號(hào)強(qiáng)度，避免圖像過曝。

3. 調(diào)整探測器靈敏度

過暗：選擇更靈敏的探測器（如 secondary electron detector）或者提高探測器的增益設(shè)置。

過亮：調(diào)低探測器的增益，或者切換到不同類型的探測器，如 backscattered electron detector (BSE)，它通常可以提供更均衡的亮度。

4. 優(yōu)化樣品表面

過暗：樣品表面可能過于粗糙或不導(dǎo)電，導(dǎo)致電子散射過多。確保樣品表面涂覆一層導(dǎo)電材料（如金、鉑等），以提高信號(hào)的反射。

過亮：樣品表面可能太光滑或存在過度導(dǎo)電材料。嘗試調(diào)整樣品涂層厚度。

5. 調(diào)整工作距離（WD）

過暗：減小工作距離可以增加信號(hào)的強(qiáng)度。

過亮：增加工作距離，減少電子束的散射。

6. 調(diào)節(jié)加速電壓（HV）

過暗：提高加速電壓可以增加電子束的穿透力，從而提高圖像亮度，尤其是在觀察較深的樣品時(shí)。

過亮：降低加速電壓，減少電子束的穿透力。

7. 后處理圖像

在導(dǎo)出圖像之前，使用軟件（如 Igor Pro、ImageJ 等）進(jìn)行圖像增強(qiáng)、調(diào)整亮度、對(duì)比度和伽馬值等，以進(jìn)一步改善圖像質(zhì)量。

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡圖像過暗或過亮的調(diào)整方法。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價(jià)格請(qǐng)咨詢