9月6日，第24屆中國國際光電博覽會與2023深圳國際電池技術展覽會將在深圳舉行，BCEIA2023第二十屆北京分析測試學術報告會暨展覽會將在北京舉行，澤攸科技將攜一眾先進科學儀器，及微納技術領域行業(yè)解決方案，誠邀您共赴盛會！

圖. 中國國際光電博覽會展館分布

圖. 深圳國際電池技術展覽會展館分布

圖. 北京BCEIA2023展館分布

澤攸科技是一家具有完全自主知識產權的先進科學儀器公司，專注于研發(fā)、生產和銷售原位電鏡解決方案、掃描電鏡整機、臺階儀、探針臺等科學儀器，立志成為具有國際先進水平的材料表征測量儀器及半導體加工科學儀器制造商。目前，公司有包括PicoFemto系列原位TEM/SEM測量系統(tǒng)、ZEM系列臺式掃描電鏡、JS系列臺階儀等在類的多個產品線，在國內外均獲得了高度關注。

ZEM系列臺式掃描電鏡同時兼具成像質量和便攜性，加速電壓可以連續(xù)調節(jié)，可同時搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、集成式能譜儀及多種原位樣品臺，擁有多項自主創(chuàng)新技術，滿足不同實驗及檢測需求，應用領域廣泛。

PicoFemto系列原位TEM測量系統(tǒng)是將光、電、力、熱、冷凍、液體、氣氛等功能集成到透射電鏡內，將您的透射電鏡打造成功能強大的納米實驗室。

PicoFemto系列原位SEM測量系統(tǒng)是將拉伸、納米壓痕、低溫、液體、氣體等復雜的測試模塊集成進掃描電鏡，大大提高您掃描電鏡的應用領域。

澤攸科技JS系列高精度臺階儀是公司自主研發(fā)的國產臺階儀。突破核心技術-大行程超精密平面掃描-70mm，優(yōu)于20nm/2mm；大帶寬大行程納米微動臺-80um，10kHZ；超微壓力恒定控制，0.5mN-15mN，打破了國外壟斷的局面，是半導體國產化進程中不可或缺的一環(huán)。

ZEM18臺式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的三會相約┃9月6日澤攸科技攜科學儀器亮相深圳光博會、深圳電池展、北京BCEIA2023。